しらさぎプロジェクト大学開放特許データベース(単願&発明者検索)

特許検索結果
しらさぎプロジェクト 特許検索結果
        
用途: 測定・計測
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103 件
分野 出願番号
登録番号
名称 大学 用途
計測環境 2007-190130
4915740
銀イオンの測定方法及び被検物質の測定方法 JAIST 測定・計測
計測 2008-113726
5207290
ラテラルフロー型のクロマトストリップ及び生体材料の固相化方法 JAIST 測定・計測
計測 2008-124527
5327739
被検物質の測定方法 JAIST 測定・計測
計測 2008-172249
5207295
プレーナー型電極 JAIST 測定・計測
計測 2009-255527
5441035
試料解析装置 JAIST 測定・計測
分析
計測 2009-529992
5589226
電磁界空間分布可視化装置、電磁界空間分布可視化方法およびそのプログラム 金沢大学 測定・計測
イメージ処理
情報・通信計測 2009-533139
5590547
信号解析方法 富山大学 測定・計測
データ処理
計測 2010-185607
5594769
電磁界ベクトル表示装置 金沢大学 測定・計測
イメージ処理
計測 2010-273830
5745263
クロマトグラムシミュレーション方法、システム、およびプログラム、ゲルろ過カラムの設計方法、並びにシミュレーション結果の評価方法 滋賀医科大学 測定・計測
計測 2010-522601
5737672
電波強度計測装置および電波強度計測システム 金沢大学 測定・計測
イメージ処理
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