特許詳細
出願番号 | 2010-522601 |
登録番号 | 5737672 |
国際特許分類 | G01R 29/08,G01R 29/26 |
発明名称 | 電波強度計測装置および電波強度計測システム |
出願人又は権利者 | 金沢大学 |
研究者 | |
研究分野 | 計測 |
用途 | 測定・計測 イメージ処理 |
要約 課題 | 複数のセル(CL11,CL12,・・・)を有する平面を有し、平面に入射される電波を吸収する電波吸収部(100)と、複数のセルにおける、電波の強度を測定する測定部(200)とを備えることにより、電波強度を短時間で測定することが可能な電波強度計測装置および電波強度計測システムを提供する。 |
要約 解決手段 | |
問い合わせ先 |
金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111 |
更新日 | 2017/12/01 |