特許詳細

出願番号	2021-125071
登録番号	7045116
国際特許分類	G01B 11/16
発明名称	光切断法による位相解析を用いた変位計測方法とその装置
出願人又は権利者	福井大学
研究者	藤垣　元治
研究分野	計測デバイス
用途	検査 測定・計測
要約 課題	構造物に対して光切断法を高精度に実施可能とする方法及び装置を提供することである。
要約 解決手段	光源からのスリット光を計測対象物の表面に投射し、前記計測対象物の表面で反射した前記スリット光を回折現象が発生する光学素子により回折させ、前記光学素子により生成された複数本の平行な線状の回折光をカメラにより撮像し、前記撮像された複数本の平行な線状の回折光を位相解析する。
問い合わせ先	福井大学 産学官連携本部 0776-27-8956
更新日	2022/05/19