特許詳細

出願番号	2017-170670
登録番号
国際特許分類	G01B 11/30、G01N 21/88
発明名称	スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置
出願人又は権利者	福井大学
研究者	藤垣　元治
研究分野	計測
用途	検査 建築・土木 測定・計測
要約 課題	【課題】スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置を提供する。
要約 解決手段	【解決手段】橋梁などのインフラ構造物の場合は、高い頻度で自然に加振されることが多く、レーザー光源と撮影装置のみの単純な構成で欠陥検査ユニットを構成することができる。撮影装置により撮像された画像は処理装置により処理される。このような構成であれば、小型の装置にすることも可能で、持ち込んで三脚に立てることで、容易にレーザー光の照射と撮影を行なうことができる。【選択図】図１
問い合わせ先	福井大学 産学官連携本部 0776-27-8956
更新日	2021/01/21