特許詳細

出願番号	2016-248326
登録番号
国際特許分類	G01N 21/65
発明名称	結晶性高分子の劣化測定方法
出願人又は権利者	金沢大学
研究者
研究分野	計測
用途	高分子材料 測定・計測
要約 課題	結晶性高分子の劣化を初期段階から検出できる結晶性高分子の劣化測定方法を提供することを目的とする。
要約 解決手段	この結晶性高分子の劣化測定方法は、結晶性高分子のラマンスペクトルを測定する工程と、測定したラマンスペクトルと標準試料のラマンスペクトルとを比較し、前記結晶性高分子のラメラ構造における非晶相の一部が結晶化しようとする前駆現象に起因した所定のピークのピークシフトを測定する工程と、を有する。
問い合わせ先	金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111
更新日	2018/11/07