特許詳細
出願番号 | PCT/JP2016/084534 |
登録番号 | |
国際特許分類 | G01Q 10/04 |
発明名称 | プローブ走査機構、プローブ装置および走査型プローブ顕微鏡 |
出願人又は権利者 | 金沢大学 |
研究者 | |
研究分野 | 計測 |
用途 | 走査プローブ |
要約 課題 | プローブ走査機構(10)は、プローブ(20)の長尺方向と同一の方向の両端を貫通する第1の貫通孔(15a)を有し、第1の貫通孔(15a)に挿入されたプローブ(20)をプローブ(20)の長尺方向に走査する圧電素子(15)と、圧電素子(15)を収容する筐体(11)と、筐体(11)の一端および他端にそれぞれ固定され圧電素子(15)を挟んで筐体(11)に支持する一対の支持部材(12a、12b)と、一対の支持部材(12a、12b)の一方を圧電素子(15)の伸縮軸方向の一端に固定し他方を圧電素子(15)の伸縮軸方向の他端に固定する固定部材(14)と、少なくともプローブ(20)の先端側において、プローブ(20)を第1の貫通孔(15a)の内部に保持する保持部材(16)とを備える。 |
要約 解決手段 | |
問い合わせ先 |
金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111 |
更新日 | 2017/12/01 |