特許詳細

出願番号	2014-213211
登録番号	5842242
国際特許分類	G01N 23/205
発明名称	回折環分析方法および回折環分析装置
出願人又は権利者	金沢大学
研究者
研究分野	計測
用途	測定・計測
要約 課題	回折環に欠落がある場合であっても回折環を分析しかつ精度を向上させる回折環分析方法を提供する。
要約 解決手段	回折する性質をもつビームを計測対象物の特定部分に照射し、この特定部分から反射される回折ビームにより形成される回折環の中心角αをパラメーターとするひずみを測定し（Ｓ２１、Ｓ２２）、この測定結果をフーリエ変換し（Ｓ２３）、このフーリエ変換の結果から、前記特定部分の応力又はひずみの少なくとも一方を算出する（Ｓ２４）。
問い合わせ先	金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111
更新日	2017/12/01