特許詳細
出願番号 | 2014-167768 |
登録番号 | 6362964 |
国際特許分類 | G01N 24/10,G01R 33/60 |
発明名称 | 電子スピン共鳴測定装置、半導体装置、及び電子スピン共鳴の測定方法 |
出願人又は権利者 | 金沢大学 |
研究者 | |
研究分野 | 計測 |
用途 | 測定・計測 |
要約 課題 | 測定装置の構造を単純化し、より簡単に電子スピン共鳴を測定することのできる電子スピン共鳴測定装置を提供する。【解決手段】電子スピン共鳴測定装置100は、磁場印加部3と、インダクタ部11と、発振回路形成部13と、発振周波数計数部7と、スペクトル取得部と、を備える。磁場印加部3は、測定対象物Mに対して第1磁場を印加する。インダクタ部11は、測定対象物Mに対して交流磁場である第2磁場を印加する。発振回路形成部13は、インダクタ部11と接続されて発振回路を形成する。発振回路形成部13は、素子パラメータを変化することにより第2磁場の周波数を変化させる。発振周波数計数部7は、発振回路の発振周波数を計数する。スペクトル取得部は、発振周波数と素子パラメータとを関連づけて、発振周波数の素子パラメータについての関数として表現される電子スピン共鳴スペクトルを取得する。 |
要約 解決手段 | |
問い合わせ先 |
金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111 |
更新日 | 2017/12/01 |