特許詳細

出願番号	2013-081705
登録番号
国際特許分類	G01N 33/00,G01Q 60/24,G01Q 30/14 (20100101)
発明名称	高分子の長鎖分岐構造解析方法、高分子の評価方法、高分子の製造方法及び高分子
出願人又は権利者	JAIST
研究者
研究分野	計測
用途	測定・計測
要約 課題	高速原子間力顕微鏡又は原子間力顕微鏡で取得した高分子鎖一本の画像に基づいて長鎖分岐構造を測定し、高分子材料の加工性等を明確化するための高分子の長鎖分岐構造解析方法及び高分子の評価方法を提供する。また、これら方法を用いた高分子の製造方法及び当該製造方法によって製造した高分子を提供する。
要約 解決手段	本発明の高分子の長鎖分岐構造解析方法は、長鎖分岐を持つ高分子鎖一本の画像をナンバリングルールによって解析し、構造パラメータを取得する。また、本発明の高分子の評価方法は、長鎖分岐を持つ高分子鎖一本の画像をナンバリングルールによって解析し、構造パラメータを取得し、当該構造パラメータを用いて高分子鎖一本の分子構造と物性との相関を明確化する。
問い合わせ先	JAIST 産学官連携推進センター 0761-51-1070
更新日	2017/12/01