特許詳細

出願番号	2012-164640
登録番号	6176598
国際特許分類	G01B 11/02
発明名称	寸法測定プログラム、寸法測定装置、及び、寸法測定方法
出願人又は権利者	金沢大学
研究者
研究分野	計測
用途	測定・計測
要約 課題	斜めから撮影した場合であっても寸法の測定精度が低下することがなく、測定対象が直方体形状に限定されずに汎用性の高い寸法測定プログラムを提供する。
要約 解決手段	マーカＭｋと測定対象Ｏｂとを含む撮影画像Ｐｃ１を取得するステップＳ１と、マーカの正面像を撮影したときの画像に含まれる少なくとも四つの点を基準点ｐ１としたときに、基準点ｐ１に対応する対応点ｐ２を特定するステップＳ３と、対応点ｐ２が基準点ｐ１に位置するように撮影画像を透視投影変換するステップＳ４と、変換後の画像Ｐｃ２におけるマーカＭｋの座標と、実空間におけるマーカの寸法とから、変換後の画像のスケールを算出するステップＳ５と、スケールに基づいて寸法を算出するステップＳ６とを備える。
問い合わせ先	金沢大学 先端科学・イノベーション推進機構 076-264-6111
更新日	2017/12/01